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JW3308光回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，是应用于现场的*优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、插损测量仪、光功率计、光源，并具有数据储存功能。
一、产品概述 JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、
光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和
系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的
*优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、
光源，并具有数据存储功能。
二、技术指标
仪表型号
JW3308
回损测试
测试波长(nm)
1310/1550（±20）
谱宽（nm）
<5
输出功率（dBm）
≥-5
稳定度（dB/30min)
±0.05
测量范围（dB）
0～70
精度（dB）
±0.5
分辨率 （dB）
0.01
接口类型
FC/APC
光插损（功率计）模式
波长范围（nm）
800 ～ 1700
校准波长（nm）
850、1300、1310、1490、 1550、 1625
显示单位
dBm、dB、xW
测量范围（dBm）
+6 ～-70
不确定度（dB）
4 ±0.25
显示屏
LCD
通讯接口
USB
电源（V）
3节1.5V AA电池/USB供电
重量（g，不含护套、电池）
380
配置清单
1.回损仪主机---------------------------------1台
2.说明书------------------------------------------1本
3.5号电池----------------------------------------3节
4.牛津包------------------------------------------1个
5.合格证------------------------------------------1个
JW3308|JW3308|JW3308手持式回损仪